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论  文
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论文题目 刊物名称 第一编辑 发表年度
电离辐照Si-SiO2的电子能谱深度剖析 核技术 刘昶时 1990
水凝胶中吸取剂量分布的测量 核技术 靳涛 1990
用PIXE—PIGE方法作多元素同时分析 核技术 吴士明 1990
用共振核反应27Al(P.γ)28Si和SOS样品的研究质子在固体Si中能损的因素异形效应 核技术 马忠权 1990
由边界脉冲产生的孤立波解 计算物理 常谦训 1990
MOS场效应晶体管的电离辐射效应 抗核加固 高文珏 1990
MOS电容和MOSFET辐照相关性及其退火的研究 抗核加固 严荣良 1990
Γ辐照后MOS结构的耐温性退化 抗核加固 余学峰 1990
高压偏移栅MOS电离辐照特性研究 抗核加固 赵元富 1990
CoMnNiO非晶薄膜的退火性质 科技通报 秦东 1990
合金成分能谱无标样定量分析中背底的确定 科技通讯 康雪雅 1990
扫描电镜图象质量及影响因素 科技通讯 康雪雅 1990
MOS器件沟道边缘辐照寄主漏电 科技通讯(乌鲁木齐) 吾勤之 1990
CMOS器件电离辐射损伤等效研究中损伤敏感性的确定 科技通讯(乌鲁木齐) 何承发 1990
MOS场效应晶体管的电离辐照效应 科技通讯(乌鲁木齐) 高文钰 1990
γ辐照后MOS结构的耐温性退化 科技通讯(乌鲁木齐) 余学峰 1990
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